Главная Об интегральных микросхемах A0AfAZA5A4Aff
Матри-ца;э/1е-мднтоб помят/ eifylS Матрица элементов тмяти Матрица з/ге-мвнтоВ тмяти ffxaff-дыход Матрица элементов памяти, Вход-выхад Bxoff-Вь/ход Рход-Сшод Генератор =й тона хранения АСА7А8А9 1 17 16 15 Дешифратор
) Тест указан при взмерегаш по выводу 2. 2) Два первых теста являются установочными. ) Первый тест является установочным. Три первых теста являются установочными. ) При переходе установочных тестов к измерительным источники не отключают. ) Вывод 9 заземлен. Таблица 2.167
) Режим измерений приведен для вывода 2. *) Первый тест-устаноБочный. режим ЕзкереьЕя ггисдтся гс вьгоду 11 (для т-по выводу 14). ) Четыре первых теста-установочные, режнм измерения приводится по выводу 11. *) Вывод.9 заземлен. 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 [89] 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 145 146 147 148 149 150 151 152 153 154 155 156 157 158 159 160 161 162 163 164 165 166 167 168 169 170 171 172 173 174 0.0154 |